在半導(dǎo)體功率器件(如IGBT、SiC、GaN)的研發(fā)與量產(chǎn)測(cè)試中,?功率循環(huán)測(cè)試是評(píng)估器件可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。如何選擇一款高精度、高效率、高穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備,直接影響產(chǎn)品的壽命預(yù)測(cè)和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
在半導(dǎo)體功率器件(如IGBT、SiC、GaN)的研發(fā)與量產(chǎn)測(cè)試中,功率循環(huán)測(cè)試是評(píng)估器件可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。如何選擇一款高精度、高效率、高穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備,直接影響產(chǎn)品的壽命預(yù)測(cè)和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
金凱博KC-3130功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng),專(zhuān)為車(chē)規(guī)級(jí)(AEC-Q101)、工業(yè)級(jí)(JEDEC)及第三代半導(dǎo)體(SiC/GaN)測(cè)試需求打造,提供全自動(dòng)化、高精度、可擴(kuò)展的測(cè)試解決方案,助力企業(yè)提升測(cè)試效率,降低研發(fā)成本!
為什么選擇金凱博KC-3130?
1. 高精度控制,滿(mǎn)足嚴(yán)苛測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
溫度控制精度±0.5°C,支持紅外熱像儀+熱電偶雙校準(zhǔn),確保結(jié)溫(Tj)測(cè)量準(zhǔn)確
電流/電壓測(cè)量誤差≤±0.5%,采用四線法測(cè)量,消除導(dǎo)線電阻影響
符合JEDEC JESD22-A104、AEC-Q101、IEC 60747-9等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
2. 大功率范圍,覆蓋主流功率器件
電流輸出:0-3000A(可定制更高),滿(mǎn)足IGBT模塊、SiC MOSFET、GaN HEMT測(cè)試需求
電壓范圍:0-4500V,適配車(chē)規(guī)級(jí)、光伏、工業(yè)電源等高壓應(yīng)用
3. 全自動(dòng)化測(cè)試,提升效率
多通道并行測(cè)試(支持8-16通道),大幅縮短測(cè)試周期
智能失效判定,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)Ron、熱阻、柵極漏電等關(guān)鍵參數(shù)
一鍵生成報(bào)告,支持MES系統(tǒng)對(duì)接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)可追溯
4. 模塊化設(shè)計(jì),靈活擴(kuò)展
支持液冷/風(fēng)冷溫控,適應(yīng)不同ΔT測(cè)試需求(-40°C~+250°C)
可搭配雙脈沖測(cè)試(DPT)功能,同步評(píng)估動(dòng)態(tài)特性
開(kāi)放式API接口,支持Python/LabVIEW二次開(kāi)發(fā)
典型應(yīng)用場(chǎng)景
車(chē)規(guī)級(jí)功率模塊(AEC-Q101認(rèn)證)
SiC/GaN器件可靠性評(píng)估
光伏逆變器、工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試
高校/研究所功率器件壽命研究